解鎖食物的秘密：探索XRF是怎么對食品進行批量化學分析的？
消費者健康在食品和飲料行業中自然是至關重要的。食品制造商使用大量的原材料，因此監測原材料進入生產過程之前以及產品到達貨架之前對其進行分析是至關重要的。XRF分析XRF儀器廣泛應用于食品行業，用于分析食品產品和原材料的元素組成。這種方法是非破壞性的，可以應用于廣泛的樣本，使其成為質量控制和產品開發的理想工具。XRF分析通過用高能X射線轟擊樣品來工作，這會導致樣品中的原子發射特征X射線。然后檢測并分析這些X射線以確定樣品的元素組成。XRF技術是一種快速表征方法，其最小或無需樣品制備，當研究者想要知道樣品中存在什么（即批量化學信息）時非常有用。XRF系統可以輕松分析固體或液體樣本，并提供包括樣品中存在的元素數量及其濃度的高度準確的化學信息。這些信息對于營養和監管目的尤為重要。除了食品產品外，XRF分析還可以用于分析食品生產中使用的原材料，如谷物、油和添加劑。這些信息可以用于確保原材料的質量和一致性，并識別潛在的污染物或摻雜物。能量色散......閱讀全文
解鎖食物的秘密：探索XRF是怎么對食品進行批量化學分析的？
消費者健康在食品和飲料行業中自然是至關重要的。食品制造商使用大量的原材料，因此監測原材料進入生產過程之前以及產品到達貨架之前對其進行分析是至關重要的。XRF分析XRF儀器廣泛應用于食品行業，用于分析食品產品和原材料的元素組成。這種方法是非破壞性的，可以應用于廣泛的樣本，使其成為質量控制和產品開發的理
WD－XRF與ED－XRF的優缺點
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
運用EDXRF進行大氣顆粒物元素分析
空氣污染是全世界工業、政府和人口持續關注的問題。特別是暴露在空氣中有害健康的重金屬如鉛、砷或鎬，這些重金屬被吸入顆粒物中通過空氣傳播被吸入肺部和身體這也是人們關注的焦點。 本文介紹采用SPECTRO ED-XRF技術對大氣顆粒物中有害元素的分析應用。 SPECTRO XEPOS ED-XRF
WD－XRF與ED－XRF有什么區別
WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按光子能量進行分離來測定各元素含量。
WDXRF（波譜）與EDXRF(能譜)有哪些區別之處
X射線熒光光譜法，是用X射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線（X-熒光）。X射線熒光分析儀分為波長色散型（WD-XRF）與能量色散型（ED-XRF）兩種。兩者雖然同屬于X射線熒光分析儀，產生信號的方法相同，后得到的波譜也極為相似，但由于采集數據的方式不同，兩者在原理和儀器結構上有
X射線熒光分析的原理及應用
?X射線熒光分析(XRF)——是對任何種類的樣品進行元素分析的好分析技術，無論必需分析的樣品是液體、固體還是粉末。XRF可以將高的準確度和精密度與簡單和快速的樣品準備結合，對鈹 (Be) 到鈾 (U) 的元素喜遷分析，濃度范圍從 100 % 到低至亞 ppm 級。? 作為一種確定各種材料化學組成的
色散型與能量型x射線光譜儀各有什么優缺點
一、X一射線熒光分析儀(XRF)簡介X一射線熒光分析儀(XRF)是一種較新型的可以對多元眾進行快速同時側定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X一熒光).波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理I.波長色徽型X射線熒光光諾儀(WD-XRF)是
x射線熒光光譜儀－SPECTRO－XEPOS的廣泛應用
斯派克XEPOS能量色散x射線熒光光譜儀(ED-XRF)重新定義ED-XRF分析特殊性能的新水平。 新斯派克XEPOS光譜儀代表了能量色散x射線熒光技術的飛躍。它提供突破性的進步multi-elemental分析專業,小,微量元素濃度。新發展激勵和檢測提供出色的靈敏度和檢測限制收益顯著的精密度和準確
X射線機的優缺點
一、x一射線熒光分析儀(xrf)簡介x一射線熒光分析儀(xrf)是一種較新型的可以對多元眾進行快速同時側定的儀器。在x射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級x射線(即x一熒光).波長和能量是從不同的角度來觀察描述x射線所采用的兩個物理i.波長色徽型x射線熒光光諾儀(wd-xrf)是
單波長能量色散X射線熒光分析技術
單波長能量色散X射線熒光分析技術(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠雙曲面彎晶、二次靶或者多層膜彎晶等技術，將X射線管出射譜中的單一能量衍射聚焦到樣品一點，激發樣品中元素熒光，這樣極大降
X射線熒光光譜的概念
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
在光譜領域中XRF是什么
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
什么是X射線熒光光譜
X射線熒光光譜(XRF)：X射線熒光光譜按 分 離 特 征 譜 線 的 方 法 分 為 波 長 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）兩種。WD－XRF與ED－XRF的區別在于前者是用分光晶體將熒光光束進行色散，而后者則是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將所得信號按
X射線熒光光譜分析的發展概述
20世紀80年代初期，商品X射線熒光光譜儀主要有波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)、能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)和以正比計數器為探測器的可攜式X射線熒光光譜儀(PXRF)。WDXRF譜儀的送樣系統和參數的設置已高度自動化，用戶根據待分析試樣的組成購買理論α系數表，用于校正基體中元素間的
波散XRF與能散XRF的區別
一．X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶
XRF的兩大類型，波長色散型和能譜色散型區別何在？
X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。 波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶體分光而后
微－X－射線熒光－(μXRF)技術詳解
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X 射線
布魯克推出新一代波散XRF－S8－TIGER?－2
分析測試百科網訊 近日，Bruker宣布推出其新款波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀S8 TIGER?系列2。作為其即新一代產品，S8 TIGER系列2是最通用的WDXRF工具，可用于工業和學術材料研究以及材料的工業質量控制（QC）中的高級定量元素分析。S8 TIGER? 2 據介紹，新的
全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)原理及結構簡述
X射線熒光(XRF)是當原級X射線照射樣品時，受激原子內層電子產生能級躍遷所發射的特征二次X射線。該二次X射線的能量及強度可被探測，與樣品內待測元素的含量相關，此為XRF光譜儀的理論依據。 根據分光系統的不同，XRF光譜儀主要有波長色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種，二者結構示
XRF的分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。 c) 根據各元素的特征X射線的強
波長色散X射線熒光光譜儀的新進展
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）,從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色散型
探索小行星碎片，理學WDXRF和熱分析幫大忙
來自 Ryugu 的樣本——一顆存在于離地球最近的小行星帶中的 C 型小行星，估計有 46 億年的歷史——是迄今為止發現的最古老的已知材料。它是由日本國家航天局 JAXA 發射的探測器 Hyabusa2 收集的。 Hyabusa2 于 2014 年發射，并于 2020 年 12 月返回樣本。與作
X射線熒光光譜儀有兩種基本類型
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XR
X熒光光譜儀分類及比較
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
XRF的分類
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型： 波長色
波長色散型和能量色散型XRF的相關介紹
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射 線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。 因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型: 波長色
X熒光分析儀的分類
不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。同時樣品受激發后發射某一元素的特征X射????線強度跟這元素在樣品中的含量有關，因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。????因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色
原子光譜技術概念掃盲
原子光譜技術作為現代分析檢測技術中的一個重要組成部分，在分析領域中占據著舉足輕重的地位，而其發展也反映了分析技術的不斷改革與創新。綜述了中國原子光譜技術近15年來（2000年—2014年）的研究與應用進展。內容涉及原子光譜的多個分支領域，包括原子發射光譜，原子吸收光譜，原子熒光光譜，X射線熒光光譜以
帶你認識原子光譜技術
原子光譜技術作為現代分析檢測技術中的一個重要組成部分，在分析領域中占據著舉足輕重的地位，而其發展也反映了分析技術的不斷改革與創新。綜述了中國原子光譜技術近15年來（2000年—2014年）的研究與應用進展。內容涉及原子光譜的多個分支領域，包括原子發射光譜，原子吸收光譜，原子熒光光譜，X射線熒光光譜以
原子光譜技術有哪些分類
原子光譜技術作為現代分析檢測技術中的一個重要組成部分，在分析領域中占據著舉足輕重的地位，而其發展也反映了分析技術的不斷改革與創新。綜述了中國原子光譜技術近15年來（2000年—2014年）的研究與應用進展。內容涉及原子光譜的多個分支領域，包括原子發射光譜，原子吸收光譜，原子熒光光譜，X射線熒光光譜以