電磁輻射激發X熒光分析的簡介
簡稱EDXRF。電磁輻射激發一般用X射線管或Fe、Pu、Cd、、Co等放射性同位素作激發源。這時它的探測極限雖不及PIXE，但制樣簡便，常常可以直接分析原始樣品，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應用更為廣泛。X射線在物質中的穿透能力較大,故能測量較厚樣品中的元素平均含量。當使用放射性同位素作激發源時能夠制成便攜式的儀器，不僅可用于實驗室，還可以用于工廠、野外地質和礦山。當使用電子同步加速器或電子儲存環發出的高強度偏振輻射作激發源時，探測極限比PIXE好幾個數量級。若再使用晶體單色器，還可以制成同步輻射X射線微探針，進行微區分析。......閱讀全文
電磁輻射激發X熒光分析的簡介
簡稱EDXRF。電磁輻射激發一般用X射線管或Fe、Pu、Cd、、Co等放射性同位素作激發源。這時它的探測極限雖不及PIXE，但制樣簡便，常常可以直接分析原始樣品，而且既能分析低含量樣品，又能分析高含量樣品，因此應用更為廣泛。X射線在物質中的穿透能力較大,故能測量較厚樣品中的元素平均含量。當使用放
質子激發X射線熒光分析的簡介
利用原子受質子激發后產生的特征 X射線的能量和強度來進行物質定性和定量分析的方法。簡稱質子 X射線熒光分析，英文縮寫為PIXE。質子X 射線熒光分析是20 世紀70 年代發展起來的一種多元素微量分析技術，其分析靈敏度可達10-16 克，相對靈敏度可達10-6～10-7 克/克。原則上可分析原子序
電子激發X熒光分析的介紹
電子激發X熒光分析的軔致輻射本底比PIXE高二個量級以上，因此分析靈敏度低得多。但是，用聚焦的電子束激發樣品表面1微米的區域,使產生元素的特征X 射線，可以觀察樣品表面組成的局部變化。用這種方法能測定合金、礦物、陶瓷等樣品中的夾雜物和析出物，決定合金元素的局部富集區等。
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
質子激發X射線熒光分析的實驗裝置
質子X 射線熒光分析的主要實驗裝置包括： ①加速器，一般用質子靜電加速器，選用能量為1～3 兆電子伏的質子，在此能量范圍內，質子激發X射線的產額高，靈敏度高；質子的能量再高時，將會引起許多核反應，使本底增大；能量再低時，質子的穿透能力下降，只能用于表面分析。②靶室（或稱散射室），是分析樣品放置
帶電粒子激發X熒光分析的概述
簡稱PIXE,它應用的帶電粒子可以是質子、α粒子或重離子，目前使用最多的是質子。它是用加速器（常用靜電加速器產生的幾兆電子伏能量的質子束轟擊樣品，質子使樣品中各元素原子的內層電子電離，接著較外層的電子向內層躍遷,同時發射X射線。由于各種元素發射具有特定波長（或能量）的標識X射線,可利用鋰漂移硅探
簡述質子激發X射線熒光分析的原理
基本原理是用高速質子照射樣品，質子與樣品中的原子發生庫侖散射。原子內層電子按一定幾率被撞出內殼層，留下空穴，較外層電子向這個空穴躍遷時發射出特征X 射線。用探測儀器探測和記錄這些特征X 射線譜，根據特征X 射線的能量可定性地判斷樣品中所含元素的種類，根據譜線的強度可計算出所測元素的含量。
激發X射線熒光分析法的概念
當α 、β、γ或X射線作用于樣品時，由于庫侖散射，軌道電子吸收其部分動能，使原子處于激發狀態。由激發態返回基態時發射特征X射線，根據此特征X射線的能量和強度來分析元素的種類和含量。其靈敏度很高，用途很廣。
質子激發X射線熒光分析的非真空分析技術
質子X 射線熒光分析一般在真空中照射樣品（稱作真空分析或內束技術），但也發展了一種非真空分析技術（或稱外束技術），即將質子束從真空室中引出，在空氣（或氦氣）中轟擊樣品。真空分析可能引起厚樣品積累正電荷（質子電荷）而吸引周圍電子，造成本底增高。非真空分析由于樣品周圍空氣電離而有導電性，可消除電荷積
技術課堂之X熒光激發源的激發方式
針對通常的X射線熒光光譜儀，比較普及的激發方法有一下幾種： 一、用放射性同位素源激發 源激發是將小量的放射性同位素，如55Fe（鐵）、109Cd（鎘）等化學物質固封在密封性的多出小圓孔的鉛罐中，持續發射點出低能γ放射線，經準直后照射被測化學物質上造成X瑩光。放射性同位素源傳出的X射線
同步輻射x熒光分析簡介
同步輻射x熒光分析:（synchrotron-basedX-ray fluorescence）采用由加速器產生的同步輻射作光源進行x射線熒光分析的方法。 與常規x射線熒光分析相比，由于同步輻射光通量大、頻譜寬、偏振性好等優點，因此分析靈敏度顯著增高，此外取樣量少，分析速度快，可作微區三維掃描分
X熒光分析儀簡介
EDX 60a X熒光儀是一種新型的采用純物理分析方法的微機化臺式儀器,用于水泥廠，能夠30秒快速分析旋窯、機立窯、窯外分解旋窯廠家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中 CaO、 Fe2O3的百分含量，為配料成分控制及時提供數據。由于它的分析速度快（30秒），因此可實時監控生產過程中成份變化的
X射線熒光分析技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X熒光分析儀簡介
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的，進行元素的定性分析。
X射線熒光分析的技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光分析方法的簡介
X射線熒光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決于物質中原子的種類。因此，根據熒光X射線的波長就可確定物質的元素組分；再根據該熒光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，6
簡介X射線熒光分析的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X熒光分析儀的特點簡介
儀器機電一體微機化設計,大屏幕24bit色LCD,操作人機對話,簡潔美觀； 檢測品種廣,檢測量程寬,分析速度快,標準樣品用量少； 采用熒光強度比率分析方法, 溫度、氣壓自動修正,碳氫比(C/H)亦可修正； 儀器的自動診斷功能,判斷儀器的工作狀態和電氣參數； 采用一次性樣品杯,可避免交叉污
X射線熒光分析法的簡介
中文名稱X射線熒光分析法英文名稱X-ray fluorescence analysis定 義對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依
X熒光分析儀的結構簡介
1、多功能置樣裝置 A．樣品種類：固體﹑液體﹑粉末﹑鍍層。 B．樣品托盤：可自動旋轉的測量裝置。 C．樣品室的環境：可選擇空氣﹑真空﹑氦氣。由軟件自動控制，無需人工操作。 2、激發系統 激發系統采用獨特的倒置直角光學結構設計。以50KV的低功率X射線發生器作為激發源，從X射線管產生的初
質子激發X射線發射光譜分析簡介
是20世紀60年代末發展起來的一種新的微量分析技術。經加速器加速的質子束聚焦后，空間分辨率達微米，可以激發微區樣品的X射線，用高能量分辨率的Si(Li)半導體探測器，檢測X射線能量及其強度，實現X射線光譜分析，并可同時進行背散射分析。與其他分析方法相比，具有檢測限低，快速和可同時進行多元素分析等
X射線管激發X熒光光譜連續本底扣除方法研究
X射線管是目前X射線熒光光譜分析中最常采用的激發源,它所產生的原級譜成為了X熒光光譜中本底成分的主要來源,在對這種光譜進行進一步的分析處理之前需要對其本底進行扣除,對本底估計的準確性直接影響后續處理步驟的效果。對射線管激發X熒光光譜的成分進行了分析,針對其本底特點構造了一種本底強度的估計方法,并根據
簡介X熒光鈣鐵分析儀的用途
1. 同時快速分析旋窯、機立窯、窯外分解旋窯廠家的白生料、全黑或半黑生料、熟料、水泥中的 CaO、 Fe2O3的百分含量，為配料成分控制及時提供數據。 2. 分析石灰石、粘土、鐵粉、粉煤灰等混合材中CaO、 Fe2O3的百分含量，為進廠原材料提供質量數據。 3.分析水泥中的 CaO百分含量，
簡介X熒光分析儀的技術指標
分析范圍: 0.01%～100% 分析精度：標準偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10% 樣品量: 2～3ml(相當樣品深度3mm～4mm)； 分析寬度: CaO（SO3）: min~max≤15%,例如水泥中CaO :37%～52%，通過標定工作曲線選定。 測量時間: 60、12
X射線熒光光譜分析的簡介
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法（波長色散）和X射線能譜法（能量色散）。 根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀（波長色散）和X射線熒光能譜儀
X射線熒光光譜分析簡介
一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器
簡介X射線熒光光譜分析的樣品
進行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產生的誤差；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數率也不同；成分不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要研磨至
X射線熒光光譜儀的吸收與激發效應
對一給定元素的某一吸收限的短波側，質量衰減系數pm迅速地隨著波長λ的增加而變大，根據式μm=Kλm及勒魯的研究結果，對于若干主要譜系，在0.18-10A的波段，λ的冪值m變化在2.1~2.8之間。因此越是接近吸收限短波側的譜線，所受的吸收或衰減就越大。而且，對一譜系，由于km隨的變化是連續的，故