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  • 多晶X射線衍射的原理

    多晶衍射儀法的原理與照相法類似,只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度,加上與電子計算機聯用,可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便,并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。......閱讀全文

    多晶x射線衍射的原理

      多晶衍射儀法的原理與照相法類似,只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度,加上與電子計算機聯用,可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便,并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。

    多晶X射線衍射的原理

    多晶衍射儀法的原理與照相法類似,只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度,加上與電子計算機聯用,可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便,并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。

    多晶X射線衍射的原理

    多晶衍射儀法的原理與照相法類似,只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度,加上與電子計算機聯用,可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便,并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。

    多晶x射線衍射的分類及原理

      分類  多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法(圖 1)。相機為一金屬圓筒,內徑通常為57.3毫米或114.6毫米,樣品裝在圓筒的中心軸線上,通過馬達帶動使它不停地轉動;緊貼內壁放置長條形X光底片;入射的單波長X射線經準直管作用在樣品上,穿透樣品后的 X射線進入射線收集器

    多晶X射線衍射儀

      多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器,于2008年7月1日啟用。  技術指標  ● X射線高壓發生器:最大功率:3kW,最大電壓:60kV,最大電流:60mA ● 陶瓷X光管:Cu靶,最大功率:2.2kW, 最大電壓:60kV,最大電流:55mA ● q/q 掃描模式,掃描范圍:0.

    多晶x射線衍射儀

    主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等,因此,在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用,是理工科院校和材料研究、

    多晶x射線衍射的簡介

      用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法,也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。

    多晶x射線衍射的分類

      多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法(圖 1)。相機為一金屬圓筒,內徑通常為57.3毫米或114.6毫米,樣品裝在圓筒的中心軸線上,通過馬達帶動使它不停地轉動;緊貼內壁放置長條形X光底片;入射的單波長X射線經準直管作用在樣品上,穿透樣品后的 X射線進入射線收集器而被吸收

    多晶粉末X射線衍射儀

      多晶粉末X射線衍射儀是一種用于核科學技術領域的分析儀器,于2015年12月10日啟用。  技術指標  1.工作溫度:15-25 °C 2.工作濕度:40-80 % 3.UPS電源:30 kVA(220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz) 4.最大輸出功率:2.2 kW (銅靶)

    x射線單晶衍射儀和多晶衍射儀的區別

    衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的,因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底

    多晶X射線衍射儀的基本構造

    多晶X射線衍射儀,也稱粉末衍射儀,通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構成:1) X 射線發生器(產生X射線的裝置);2) 測角儀(測量角度2θ的裝置); 3) X射線探測器(測量X射線強度的計數裝置); 4) X射線系統控制裝置(數據采集系統和各種電氣系統、保護系統等)

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的?花樣 有何特征?各有何應用多晶體的電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環.多晶取向完全混亂,可看作是一個單晶體圍繞一點在三維空間內旋轉,故其倒易點是以倒易原點為圓心,(hkl)晶面間距的倒數為半徑的倒易球,與反射球相截為一個圓.所有能產生衍射的半點都擴展

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的

    電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律.但電子波是物質波,按入射電子能量的大小,電子衍射可分為高能電子衍射、低能電子衍射和反射式高能電子衍射,而x射線衍射是x射線照射樣品.

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的?花樣 有何特征?各有何應用多晶體的電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環.多晶取向完全混亂,可看作是一個單晶體圍繞一點在三維空間內旋轉,故其倒易點是以倒易原點為圓心,(hkl)晶面間距的倒數為半徑的倒易球,與反射球相截為一個圓.所有能產生衍射的半點都擴展

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的?花樣 有何特征?各有何應用多晶體的電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環.多晶取向完全混亂,可看作是一個單晶體圍繞一點在三維空間內旋轉,故其倒易點是以倒易原點為圓心,(hkl)晶面間距的倒數為半徑的倒易球,與反射球相截為一個圓.所有能產生衍射的半點都擴展

    多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的

    電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件(布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等)和系統消光規律.但電子波是物質波,按入射電子能量的大小,電子衍射可分為高能電子衍射、低能電子衍射和反射式高能電子衍射,而x射線衍射是x射線照射樣品.

    多晶X射線衍射儀(XRD)的基本構造

    多晶X射線衍射儀,也稱粉末衍射儀,通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構成:1) X?射線發生器(產生X射線的裝置);2)?測角儀(測量角度2θ的裝置);?3) X射線探測器(測量X射線強度的計數裝置);?4) X射線系統控制裝置(數據采集系統和各種電氣系統、保護系統等)

    X射線單晶與多晶衍射技術的區別

    衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器,2、探測器,3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一,其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的,因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底

    最新X射線分析著作《多晶X射線衍射技術與應用》出版

      書號:978-7-122-19145-8   出版日期:2014年7月   定價:88元   開本:16   當當網鏈接:http://product.dangdang.com/23491711.html  多晶衍射技術是對晶態物質的組成、結構和存在情況進行分析測試的重要方法,已廣泛應用

    X射線衍射的原理

    當一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。

    X射線衍射的原理

    當一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。布拉格方程1913年英國物理學家

    X射線衍射儀原理

    x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物

    X射線衍射儀的原理

    x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物

    x射線衍射儀的原理

      x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德

    x射線衍射法的原理

    原理:將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,進而求得面間隔,即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已

    x射線衍射法的原理

    原理:將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,進而求得面間隔,即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已

    x射線衍射儀的原理

      x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產生散射波,這些波互相干涉,結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結果,便可獲得晶體結構。以上是1912年德

    x射線衍射法的原理

    原理:將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,進而求得面間隔,即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已

    x射線衍射法的原理

    原理:將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定,進而求得面間隔,即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和面間隔與已

    X射線衍射的工作原理

      當一束單色X射線入射到晶體時,由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成,這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級,故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產生強X射線衍射,衍射線在空間分布的方位和強度,與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。  布拉格方程  1913年

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