能量色散型X射線熒光分析儀的主要技術指標
主要技術指標： 分析原理 能量色散X射線熒光分析法 分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型） 檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 樣品形狀 最大460×380mm(高150mm) 樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體 樣品室氣氛 大氣 X射線管 靶材 Rh 管電壓 最大50KV 管電流 最大1mA X射線照射徑 1/3/5mm 防護 ＜0.1mR/Hr (輻射低于電腦屏幕） 檢測器 硅SIPIN探測器 光學圖像觀察 倍率15倍 軟件 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移） 照射徑： 1/3/5mm 定量分析： 基礎參數法/標準法/1點校正 計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上 內存 256MB以上 硬盤 20GB以上 OS WindowX......閱讀全文
能量色散型X射線熒光分析儀的主要技術指標
主要技術指標： 分析原理 能量色散X射線熒光分析法 分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型） 檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 樣品形狀 最大460×380mm(高150mm) 樣品 塑料/金屬
能量色散型X射線熒光分析儀的主要技術指標
分析原理?能量色散X射線熒光分析法分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm樣品形狀 最大460×380mm(高150mm)樣品 塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體樣品室氣氛 大氣X射
能量色散型X射線熒光分析儀的性能特點
ROHS Validator 能量色散型X射線熒光分析儀——高靈敏度高精度測定有害物質 第三代3DFAMILY X射線熒光分析儀來自于中國儀器超市（www.cimart.com.cn），采用世界上最先進的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自
能量色散型與波長色散型X－射線熒光分析儀的特點與差異
X 射線熒光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為我國的相關生產企業提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法（例如：發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯
多道能量色散X射線熒光分析儀的研制
X射線熒光分析是一種用于化學元素定性和定量分析的方法。在20世紀70年代初能量色散X射線熒光分析儀正式跨入分析儀器的行列,并且作為一種重要的分析工具被廣泛應用于地質、冶金、石油化工、刑偵、考古、半導體工業和醫藥衛生等領域。能量分辨率是考察能量色散X熒光分析儀性能的一個重要指標,它不僅與探測器自身的分
能量色散型X射線熒光光譜儀的主要特點有哪些？
物質是由原子組成的，每個原子都有一個原子核，原子核周圍有若干電子繞其飛行。不同元素由于原子核所含質子不同，圍繞其飛行的電子層數、每層電子的數目、飛行軌道的形狀、軌道半徑都不一樣，形成了原子核外不同的電子能級。 在受到外力作用時，例如用X-光子源照射，打掉其內層軌道上飛行的電子，這時該電子騰出后所
XRF9能量色散X射線熒光分析儀
產品介紹 X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料
XRF9能量色散X射線熒光分析儀
產品介紹 X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg?量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、冶
X射線熒光分析儀的主要分類
根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也X射線熒光分析就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波
XRF7便攜能量色散X射線熒光分析儀
X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、冶金樣品
XRF7便攜能量色散X射線熒光分析儀
產品介紹 X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、
能量色散型X射線熒光光譜儀的應用簡介
分析儀器主要應用于科學的研究和發展、工業過程控制以及半導體材料的物性測量領域。可為客戶提供量身定制的無損分析解決方案，用以分析表征廣泛的產品，例如石化產品、塑料和聚合物、環境、醫藥、采礦、建筑材料、研究與教育、金屬、食品和化妝品等多個行業領域。
能量色散X射線熒光光譜技術
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍計
能量色散X射線熒光光譜技術簡介
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍計
單波長能量色散X射線熒光分析技術
單波長能量色散X射線熒光分析技術(Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)，就是依靠雙曲面彎晶、二次靶或者多層膜彎晶等技術，將X射線管出射譜中的單一能量衍射聚焦到樣品一點，激發樣品中元素熒光，這樣極大降
能量色散X射線熒光光譜儀
在20世紀80年代初，EDXRF譜儀主要有:①液氮冷卻的Si(Li)半導體探測器與X射線管及高壓電源組成的譜儀;?②非色散型可攜式譜儀，它主要由封閉式正比計數器和放射性核素源組成，通常一次僅能測定1～2個元素。EDXRF譜儀由于儀器性能的改善現在測定元素已由Na擴展到F，甚至可檢出C;?可攜式XRF
能量色散X射線熒光光譜儀
(1)現場和原位EDXRF。現場和原位EDXRF分為兩種: ①移動式譜儀，系指可以隨身攜帶的譜儀，用于現場分析; ②手持式譜儀， 要求整機質量小于1.5 kg，可實施原位分析。現場EDXRF譜儀依據所用的激發源、探測器和電子學線路、譜儀的技術指標可劃分為四代。第一代約在 20世紀60年代中期，由英、
能量色散－X－射線熒光－(ED－XRF)的相關介紹
能量色散 X 射線熒光 (EDXRF) 是用于元素分析應用的兩種通用型 X 射線熒光技術之一。在 EDXRF 光譜儀中，樣品中的所有元素都被同時激發，而能量色散檢測儀與多通道分析儀相結合，用于同時收集從樣品發射的熒光輻射，然后區分來自各個樣品元素的特性輻射的不同能量。EDXRF 系統的分辨率取決
手持X射線熒光光譜儀的主要技術指標
1. 超高的檢測精度精確度高。 2. 超高的穩定性，超高的重復性。 3. 優異的線性相關性。 4. 采用了完全重新設計的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。 5. 結構更精密，縮短了射線管、探測器與被測樣品之間的距離，對于某些應用信號提高了~40%. 6. 新的濾波
能量色散型x射線光譜儀的介紹
現代應用X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手段之一，各種與X射線熒光光譜相關的分析技術，如同步輻射XRF、全反射XRF光譜技術等，在痕量和超痕量分析中發揮著重要的作用。
熒光硫測定儀LJLH1080型能量色散型X射線熒光光譜儀
技術參數分析量程：0.0007%-0.1%（7ppm-1000ppm）0.1%-50%（1000ppm-500000ppm）分析精度：高于國內同類產品，具體參數如下：樣品濃度50ppm時，＜士10ppm樣品濃度100ppm時，＜士8ppm樣品濃度1000ppm時，＜士5%樣品濃度1％時，＜士0.5%
能量色散X射線熒光光譜儀介紹
能量色散X射線熒光光譜儀是根據元素輻射x射線熒光光子能量不同，經探測器接收后用脈沖高度分析器區別，進行元素鑒定，根據分析線脈沖高度分布的積分強度進行元素定量的分析方法。能量色散X射線熒光光譜儀主要用于固體、粉末或液體物質的元素分析，被廣泛用于許多部門和領域,已成為理化檢測、野外現場分析和過程控制分析
能量色散X射線熒光光譜技術基本介紹
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍計
便攜能量色散X射線熒光光譜檢測土壤
能量色散X 熒光光譜儀至今還沒有形成統一的國家檢定規程。因此，根據儀器的實際檢定要求，參考相關儀器的檢定規程，對能量色散X 熒光光譜儀的檢定方法進行了深入的研究和探討，提出了能量色散X 射線熒光光譜儀的檢定方法。 X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵
能量色散X射線熒光光譜儀介紹
能量色散X射線熒光光譜儀是根據元素輻射x射線熒光光子能量不同，經探測器接收后用脈沖高度分析器區別，進行元素鑒定，根據分析線脈沖高度分布的積分強度進行元素定量的分析方法。能量色散X射線熒光光譜儀主要用于固體、粉末或液體物質的元素分析，被廣泛用于許多部門和領域,已成為理化檢測、野外現場分析和過程控制分析
X熒光硫元素分析儀的主要技術指標
1.測硫范圍:?7ppm～5%;2.精密度:?a重復性(r):＜0.02894（X+0.1691);b再現性(R):＜0.01215（X+0.05555）;?3.樣品量:?2～3ml(相當樣品深度3mm～4mm);4.測量時間:?30、60、90、120、150秒,任意設定;5.單樣品自動測量,測量
X熒光鈣鐵分析儀的主要技術指標
1. 分析范圍： CaO、Fe2O3：0.01%~100% ； 2. 分析寬度： CaO（Fe2O3）%max~ CaO（Fe2O3）%min≤5%，例如生料中CaO：38%~43%，Fe2O3：1%~6%，通過標定工作曲線選定； 3. 分析精度：標準偏差SCaO≤0.10%、SFe2O3≤
能量色散型X射線熒光光譜儀關鍵技術研究
能量色散x射線熒光光譜分析是一種多元素分析技術,可以對樣品中元素的種類和含量進行精確測量。然而能量色散x射線熒光光譜構成復雜、頻率成分多、譜峰重疊,而且吸收邊的存在使光譜含有很多奇點,所以對能量色散x射線熒光光譜的分析比較困難。因此開展對能量色散X射線熒光光譜的去噪、本底扣除和特征峰解析等的研究具有
能量色散X射線熒光光譜儀的開發
X射線熒光分析方法因其具有對試樣無損壞、多元素快速分析、準確性高、分析速度快、不污染環境等特點，適合直接用于生產的過程控制和檢測中，具有廣闊的市場前景和相當的研究意義。本文針對RoHS檢測的需求，分析了X射線熒光分析技術的理論基礎，明確了能量色散X射線熒光光譜儀的工作原理及相應光譜分析軟件設計方法。
能量色散X射線熒光光譜儀的開發
X射線熒光分析方法因其具有對試樣無損壞、多元素快速分析、準確性高、分析速度快、不污染環境等特點，適合直接用于生產的過程控制和檢測中，具有廣闊的市場前景和相當的研究意義。本文針對RoHS檢測的需求，分析了X射線熒光分析技術的理論基礎，明確了能量色散X射線熒光光譜儀的工作原理及相應光譜分析軟件設計方法。