XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波長分布，即使是單色X射線也不完全只有唯一確定波長； 從多晶樣品角度說，FWHM和晶粒大小成反比，即，晶粒直徑越小對應的FWHM越大，具體計算可以參考Scherrer equation。峰面積：也稱為integral intensity。 這個值同樣不是由某單一值決定，和樣品本身相關的量有：該峰對應晶面的數量，晶胞體積，晶粒體積，structure factor等。鑒別物相首先從峰位入手，如果峰位能對上，初步判定為該物質；其次，還要看各衍射峰的強度相對比是否也與標準卡片上的峰強比一致，如果都一樣則可肯定為該物質。......閱讀全文
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
XRD圖譜峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。XRD圖譜峰高如果是相對背地強度高，表示晶相含量高，跟面積表示晶相含量一致。XRD圖譜峰高如果是A峰相對B峰高很多，兩峰的高度比“A／C”相對標準粉末衍射圖對應峰的高度比要大很多，那么這個材料是A方向擇
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖無出峰，是什么原因
這個不能確定是不是非晶態。一方面要看你圖像的分辨率。利用謝樂公式算一下現在這個峰對應晶粒的大小。另一方面你要看一下你的樣品是不是對X射線有很強的吸收。如果都被吸收了，可能需要您再去側一下吸收光譜。
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
XRD圖譜峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。XRD圖譜峰高如果是相對背地強度高，表示晶相含量高，跟面積表示晶相含量一致。XRD圖譜峰高如果是A峰相對B峰高很多，兩峰的高度比“A／C”相對標準粉末衍射圖對應峰的高度比要大很多，那么這個材料是A方向擇
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
XRD譜圖峰窄寬代表什么意思
峰高：對多晶來說，峰高由同方向排列的晶面分布數量(texture)決定，即：若所有晶粒為同方向排列，則此時各個晶面的峰高要大于無規律排列的晶粒。而同一圖譜中不同峰高則是由每個峰對應的晶面數量決定。峰寬：一般分析最多的數值是FWHM(半峰全寬). 峰寬受很多因素影響：從儀器角度說，因素為所用X射線的波
怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖
分析方法：已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。當X
怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖
分析方法：已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。當X
怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖
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分析方法：已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。當X
怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖
分析方法：已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。當X
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怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖
分析方法：已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。當X
怎么分析通過XRD測結晶度的譜圖
分析方法：已知波長的X射線來測量θ角，從而計算出晶面間距d，這是用于X射線結構分析；另一個是應用已知d的晶體來測量θ角，從而計算出特征X射線的波長，進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。分析晶體衍射基礎的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ，式中λ為X射線的波長，n為任何正整數，又稱衍射級數。當X
廣角XRD和小角XRD的區別
XRD是X射線衍射儀的簡稱。其基本原理是:當X射線照射所測物質（晶體），相應晶面會產生衍射強度。隨著發射X射線的轉軸移動，不同角度的不同晶面會被完全掃描出來。從而根據布拉格方程2d sinθ=nλ，呈現出圖譜。廣角XRD一般指3°~80°，甚至是更高的度數，一般用來判斷某種材料的物相，即是什么物質。
XRD原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
XRD－原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
xrd原理
XRD的基本原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。
XRD原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
XRD原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
XRD－原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
xrd原理
當一束單色X射線入射到晶體時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強度，與晶體結構密切相關。這就是X射線衍射的基本原理。根據其原理，某晶體的衍射花樣的特
XRD原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
xrd原理
XRD的基本原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。需知：1、晶態
XRD－原理
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
xrd原理
XRD的基本原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。