白光干涉儀簡介
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的。......閱讀全文
白光干涉儀簡介
干涉儀是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。其基本原理就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介
怎么維護白光干涉儀？
1、儀器應妥善地放在干燥、清潔的房間內，防止振動，儀器搬動 時，應托住底座，以防導軌變形。 2、光學零件不用時，應存放在清潔的干燥盆內，以防止發霉。反光鏡、分光鏡一般不允許擦拭，必要擦拭時，須先用備件毛刷小心撣去灰塵，再用脫脂清潔棉花球滴上酒精和乙醚混合液輕拭。 3、傳動部件應有良好的潤滑。
白光干涉儀工作原理
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測
白光干涉儀的介紹
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，它是以白光干涉技術為原理，光源發出的光經過擴束準直后經分光棱鏡后分成兩束，一束經被測表面反射回來，另外一束光經參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發生干涉，顯微鏡將被測表面的形貌特征轉化為干涉條紋信號，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌。白光
白光干涉儀該怎樣選購？
白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分威兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光，并由成像系統在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干涉條
白光干涉儀的原理及維護
白光干涉儀工作原理：是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此
如何選購合適的白光干涉儀？
(1)精度。精度高的白光干涉儀是較好的白光干涉儀。為什么這么說呢?這么說并非說白光干涉儀的其他功用不重要，咱們都知道任何一款電子衡器其構成結構多大同小異的，而許多產品不同只是用材的差異性，并非技能型的差異性。但精度這個不是單獨用材就能夠處理的，它是一款白光干涉儀的規范，因而也決定其價格。? (
白光干涉儀的原理是什么
白光干涉儀：是一種對光在兩個不同表面反射后形成的干涉條紋進行分析的儀器。 白光干涉儀基本原理：就是通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由所
白光干涉儀的應用領域
應用領域： 1、半導體晶片 2、液晶產品（CS,LGP,BIU） 3、微機電系統 4、光纖產品 5、數據存儲盤（HDD,DVD,CD） 6、材料研究 7、精密加工表面 8、生物醫學工程
白光干涉儀該怎樣選購呢
白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分威兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光，并由成像系統在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉，在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干
白光干涉儀的的特點有哪些？
白光干涉儀的主要功能： 觀察、分析、應用 特點： 1 、非接觸式測量：避免物件受損。 2 、三維表面測量：表面高度測量范圍為 1nm ---200μm。 3 、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。 4 、納米級分辨率：垂直分辨率可以達0.1nm。 5、高速數字信號處理器：實現測量僅需幾秒
白光干涉儀優勢及應用領域
白光干涉儀優勢：? 價格優勢：市場上性價比的白光干涉儀。? 簡單易用：只需將樣品放置于樣品臺上，即可直接進行測量；? 可以測量非接觸式非平坦樣品：由于光學輪廓測量法是一種非接觸式技術，可以輕松測量彎曲和其他非平面表面。還輕松地測量曲面的表面光潔度，紋理和粗糙度。除此之外，作
白光干涉儀白光干涉條紋不對稱是什么原因？
白光干涉條紋不對稱。 原 因： （1）受運輸沖擊或使用過程中碰過分光板和補償板兩板平行 度已被破壞。 檢修方法：調整分光板與補償板的平行性，在沒有自準直儀時，可通過兩板同時觀察室內目標物。如日光燈，調節兩板上的寬頭螺釘，使雙象基本重合，這時調出的白光彩色條紋可達到基本對稱，如仍有不對稱現象
白光干涉儀波長測定值偏長故障解析
波長測定值偏長。 原 因： （1）拖板體測面彈簧片壓力太緊。 （2）檔板與導軌配合過緊。 （3）導軌面潤滑油脂太厚。 （4）蝸輪稍有打滑。 （5）絲桿尾架壓緊力偏小。 檢修方法：先檢查拖板體測面的彈簧片是否太緊，如太緊可將彈簧變形減少壓力的辦法解決。第二取下拖板體，檢查開合螺母上
白光干涉儀干涉環不圓正故障分析
干涉環不圓正 原 因： （1）分光板膜層面反向。 （2）兩組出射光瞳錯位。 （3）分光板、補償板、移動鏡及參考鏡有壓應力。 檢修方法：分光板膜層應是入射光的第二面，如裝在第一面，則調出的等傾干圓涉環是直的橢圓形干涉環，可旋松分光板的三只寬頭螺釘，取出分光 板，反過180°重新裝入金屬框
白光干涉儀讀數空位大于－0.03mm是什么原因？
讀數空位大于 0.03mm 原 因： （1）傳動螺母和絲桿的配合間隙大。 （2）拖板體下面的頂塊間隙偏大。 （3）檔板與導軌配合過松。 檢修方法：可先調整頂塊間隙，拖板體在工作狀態下旋松頂塊螺釘，左手大拇 指將拖板體向讀數頭方向輕推，中指壓緊頂塊，然后固緊頂塊螺釘。如果仍未達到要求，調
外差干涉儀簡介
又稱雙頻干涉儀或交流干涉儀。是使用兩種不同頻率的單色光作為測量光束和參考光束。通過光電探測器的混頻，輸出差頻信號（受光電探測器頻響的限制，頻差一般在 100兆赫以內）。被測物體的變化如位移、振動、轉動、大氣擾動等引起的光波相位變化或多普勒頻移載于此差頻上，經解調即可獲得被測數據的儀器。
瑞利干涉儀簡介
一種分波面雙光束干涉儀。1896年，瑞利研究制成，是楊氏雙縫干涉實驗裝置的改型，用于測定流體的折射率。單色縫光源S位于透鏡L1的前焦面，出射的平行光射到與S平行的狹縫S1和S2上，從雙縫出來的光分別通過長度為l的玻璃管T1和T2，接著分別通過補償板C1和C2，在透鏡L2的后焦面上相遇，產生干涉條
干涉儀的簡介
干涉儀是很廣泛的一類實驗技術的總稱， 其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息， 從而獲得實驗所關心的物理量。干涉儀并不僅僅局限于光干涉儀。 干涉儀在天文學 (Thompson et al, 2001)， 光學， 工程測量， 海洋學， 地震學， 波譜分析， 量子物理實驗， 遙感， 雷達等等精密
雙光束干涉儀簡介
雙光束干涉儀是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀，可以產生等厚干涉條紋，也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術中，如在光譜線精細結構的研究和用
超導量子干涉儀簡介
SQUID實質是一種將磁通轉化為電壓的磁通傳感器,其基本原理是基于超導約瑟夫森效應和磁通量子化現象.以SQUID為基礎派生出各種傳感器和測量儀器,可以用于測量磁場,電壓,磁化率等物理量.被一薄勢壘層分開的兩塊超導體構成一個約瑟夫森隧道結.當含有約瑟夫森隧道結的超導體閉合環路被適當大小的電流偏置后
雅滿干涉儀簡介
這種干涉儀是J.雅滿于1856年發明的。雅滿用他的干涉儀研究了水的折射率隨壓力的變化關系，并用它來測定水蒸氣的折射率。后人多用它來測量氣體的折射率。 雅滿干涉儀基本上由兩塊折射率和厚度都完全相同的平行平面玻璃板組成，每一塊板都有一個鍍銀面，其結構如圖1所示。 自擴展光源發出的一束光,以45°
斐索干涉儀簡介
斐索干涉儀是一種原理為等厚干涉，用以檢測光學元件的面形、光學鏡頭的波面像差以及光學材料均勻性等的精密儀器。其測量精度一般為/10～/100,為檢測用光源的平均波長。 干涉儀的一種類型。由斐索(H．Fi zeau1819—1896)研究而得名。光路見圖1，點光源S的光線經準直后，近乎正入射地照射
斐索干涉儀原理簡介
斐索干涉儀原理為等厚干涉，用以檢測光學元件的面形、光學鏡頭的波面像差以及光學材料均勻性等的一種精密儀器。其測量精度一般為/10～/100,為檢測用光源的平均波長。常用的波面干涉儀為泰曼干涉儀和斐索干涉儀。 斐索干涉儀有平面的和球面的兩種，前者由分束器、準直物鏡和標準平面所組成，后者由分束器、有
白光干涉儀轉動粗動手輪時拖板不走是怎么回事兒？
轉動粗動手輪時拖板不走。 原 因： （1）儀器受強烈沖擊后，絲桿向尾架方向脫出，造成讀數頭嚙合齒輪錯位。 （2） 傳動小齒輪固緊螺母松動， 造成傳動小齒輪與絲桿打滑。 （3）大齒輪及粗動手輪的壓緊螺母松動。 檢修方法：首先檢查粗動手輪壓緊螺母，然后檢查精密絲桿是否向尾架方向脫出，如已
地基超光譜紅外干涉儀簡介
傅里葉變換紅外遙感光譜輻射計 ASSIST II (別稱：地基超光譜紅外干涉儀)將中紅外光譜儀系統集成到一起，可以自主分析溫度/濕度和地面發射的測算。系統配置緊湊，方便安裝，并提供其他的通信網關接口。該儀器可以有效的獲取典型地物的比輻射率波譜，將提高地表溫度與比輻射率的遙感真實性檢驗的可信度和精
馬赫曾德爾干涉儀簡介
馬赫-曾德爾干涉儀（Mach–Zehnder interferometer）是一種干涉儀，可以用來觀測從單獨光源發射的光束分裂成兩道準直光束之后，經過不同路徑與介質所產生的相對相移變化。這儀器是因德國物理學者路德維希·馬赫（恩斯特·馬赫之子）和路德維·曾德爾而命名。曾德爾首先于1891年提出這構
白光干涉3D表面輪廓儀簡介
白光干涉3D表面輪廓儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2018年9月17日啟用。 技術指標 1、白光干涉垂直掃描技術要求：垂直掃描范圍：0-150m（壓電陶瓷掃描）縱向分辨率：0~150um范圍內≤0.1nm 2、擴展掃描范圍：150um~15mm（步進電機掃描） 3、基于2技術要求
雙光束干涉儀引力波測量簡介
干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson, 1994)。 激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962）。 1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即
馬赫曾德干涉儀干涉原理簡介
馬赫—曾德干涉儀由于不帶有纖端反射鏡，需要增加一個3dB分路器，如下圖。光源發出的相干光經3dB分路器分為光強1：1的兩束光分別進入信號臂光纖和參考臂光纖，兩束光經第二個3dB分路器匯合相干形成干涉條紋。M—Z干涉儀的優點是不帶纖端反射鏡，克服了邁克耳遜干涉儀回波干擾的缺點，因而在光纖傳感技術領