通過XRD測織構的數據分析試樣的殘余應力和位錯密度
Q:在一篇博士論文里看到可以通過XRD測織構的數據來分析試樣的殘余應力和位錯密度，如何分析呢？A:XRD測位錯密度，可以近似的取半波寬來確定。其實只是個比較的測量方法，也就是說，你可以通過不同材料或者不同處理制度得到的XRD峰值半波寬來比較位錯密度的大小。如果需要精確得到位錯密度，還需要在TEM下測量伯格斯矢量忘了說殘余應力了。我只在X射線應力儀上做過，衍射儀應該道理是一樣的。在使用衍射儀測量應力時，試樣與探測器θ-2θ關系聯動，屬于固定ψ法。通常ψ=0°、15°、30°、45°測量數次。當ψ=0時，與常規使用衍射儀的方法一樣，將探測器(記數管)放在理論算出的衍射角2θ處，此時入射線及衍射線相對于樣品表面法線呈對稱放射配置。然后使試樣與探測器按θ-2θ聯動。在2θ處附近掃描得出指定的HKL衍射線的圖譜。當ψ≠0時，將衍射儀測角臺的θ-2θ聯動分開。先使樣品順時針轉過一個規定的ψ角后，而探測器仍處于0。然后聯上θ-2θ聯動裝置在2......閱讀全文
通過XRD測織構的數據分析試樣的殘余應力和位錯密度
Q:在一篇博士論文里看到可以通過XRD測織構的數據來分析試樣的殘余應力和位錯密度，如何分析呢？A:XRD測位錯密度，可以近似的取半波寬來確定。其實只是個比較的測量方法，也就是說，你可以通過不同材料或者不同處理制度得到的XRD峰值半波寬來比較位錯密度的大小。如果需要精確得到位錯密度，還需要在TEM下測
織構及取向差分析－－EBSD
織構及取向差分析EBSD不僅能測量各取向在樣品中所占的比例，還能知道這些取向在顯微組織中的分布，這是織構分析的全新方法。EBSD可應用于取向關系測量的范例有：推斷第二相和基體間的取向關系、穿晶裂紋的結晶學分析、單晶體的完整性、微電子內連使用期間的可靠性、斷口面的結晶學、高溫超導體沿結晶方向的氧擴散、
晶體擇優取向的織構取向
織構一般用 X射線衍射法測定的極圖表示。常用的有二種形式：第一種為正極圖，它是一種對于材料中某一選定的低指數（h k l）面,表明其極點密度隨極點取向而變化的極射赤平投影圖。圖2為冷軋 08Al鋼板的極圖。圖中數字表示取向密度值，以完全無擇優取向時不同方向的取向密度為1，則取向密度大于1表示試樣中接
XRD衍射儀－測什么
測晶格常數，衍射峰強度等，能夠做物相分析，看出物質組成，以及物質的相。高分辨的還可以測小角度散射&衍射，薄膜反射率，密度，多層膜厚度，表面與界面粗糙度，RSM，pole figure。
XRD衍射儀－測什么
測晶格常數，衍射峰強度等，能夠做物相分析，看出物質組成，以及物質的相
用激光織構技術做好“表面文章”
一束綠寶石般的高能激光束照射到汽車發動機的缸孔表面上，三四分鐘后，缸孔不同區域呈現出形態各異的表面織構。這種主動設計制造的特殊織構，不僅能減少零件摩擦磨損，還能降低發動機油耗，實現節能減排。 這是激光微織構技術在機械零件表面的一個典型應用。在江蘇大學機械工程學院207實驗室里，一系列具有自主
蛋白質在食品中的織構化
在許多食品體系中，蛋白質是構成食品結構和質地的基礎，無論是生物組織（魚和肉的肌原纖維蛋白），還是配制食品（如面團、香腸、肉糜等）。還可以通過織構化加工植物蛋白使其具有咀嚼性及持水性的纖維狀產品。 一般蛋白質織構化的方法有： （1）熱凝固和薄膜形成：豆漿在95℃保持幾小時，表面會形成一層薄膜，
XRD是測什么的
主要用于物相分析，另外結晶度，全譜擬合，晶粒大小，晶胞參數，應力應變等也可以用它來分析。
XRD是測什么的
主要用于物相分析，另外結晶度，全譜擬合，晶粒大小，晶胞參數，應力應變等也可以用它來分析。
XRD是測什么的
主要用于物相分析，另外結晶度，全譜擬合，晶粒大小，晶胞參數，應力應變等也可以用它來分析。
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主要用于物相分析，另外結晶度，全譜擬合，晶粒大小，晶胞參數，應力應變等也可以用它來分析。
X射線衍射儀應用領域及解決方案
X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質的晶體結構，織構及應力，準確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學、材料生產等領域。? (一)材料科學? 研究和發展先進材料，這項工作涉及研究各種物質的特性和使用，如金屬，陶瓷和塑料，應用范圍從空間科學和國防科
普通XRD基本檢測項目有哪些
常規掃描可以知道晶體的物相，用高溫附件可知道在溫度變化情況下的物相變化。小角衍射可知道粘土等層狀材料的層間距，掠入射模式可測得納米薄膜材料厚度，還有些特殊工具可測晶體的殘余應力、織構信息等。通過對XRD結果分析，還可以測得晶體摻雜情況、物相占比情況等等。
普通XRD基本檢測項目有哪些
常規掃描可以知道晶體的物相，用高溫附件可知道在溫度變化情況下的物相變化。小角衍射可知道粘土等層狀材料的層間距，掠入射模式可測得納米薄膜材料厚度，還有些特殊工具可測晶體的殘余應力、織構信息等。通過對XRD結果分析，還可以測得晶體摻雜情況、物相占比情況等等。
普通XRD基本檢測項目有哪些
常規掃描可以知道晶體的物相，用高溫附件可知道在溫度變化情況下的物相變化。小角衍射可知道粘土等層狀材料的層間距，掠入射模式可測得納米薄膜材料厚度，還有些特殊工具可測晶體的殘余應力、織構信息等。通過對XRD結果分析，還可以測得晶體摻雜情況、物相占比情況等等。
x射線衍射儀的工作原理是什么？
對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。 X射線衍射儀是
寧波材料所織構化防污涂層研究獲進展
人類賴以生存的地球約71%的部分為遼闊的大海。人類的活動諸如海洋漁業、海洋交通運輸、海鹽業、海洋油氣開采和運輸、海水淡化、濱海旅游等都面臨一個共同的困擾——海洋生物污損。海洋生物體在船舶上的附著既增加了船體重量又加重了船體材料的腐蝕，從而增加了不必要的動力消耗。隨著污損程度的增大，最終會影響船舶
XRD是測什么用的
XRD可以測的是：1、結晶度的測定結晶度定義為結晶部分重量與總的試樣重量之比的百分數。非晶態合金應用非常廣泛，如軟磁材料等，而結晶度直接影響材料的性能，因此結晶度的測定就顯得尤為重要了。測定結晶度的方法很多，但不論哪種方法都是根據結晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積決定。2、精密測定點陣參數精密測定
XRD是測什么用的
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XRD是測什么用的
XRD可以測的是：1、結晶度的測定結晶度定義為結晶部分重量與總的試樣重量之比的百分數。非晶態合金應用非常廣泛，如軟磁材料等，而結晶度直接影響材料的性能，因此結晶度的測定就顯得尤為重要了。測定結晶度的方法很多，但不論哪種方法都是根據結晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積決定。2、精密測定點陣參數精密測定
XRD是測什么用的
XRD可以測的是：1、結晶度的測定結晶度定義為結晶部分重量與總的試樣重量之比的百分數。非晶態合金應用非常廣泛，如軟磁材料等，而結晶度直接影響材料的性能，因此結晶度的測定就顯得尤為重要了。測定結晶度的方法很多，但不論哪種方法都是根據結晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積決定。2、精密測定點陣參數精密測定
質構儀能測哪些參數
兩種型號可選擇：1、配有3-30kg的承重盤。2、配有5-100kg的承重盤。承重盤應盡量跟測量的產品的重量接近。 檢測的范圍：+/-3，5，7，10，15，20，30，50，75，100Kg檢測的分辨率：1g 檢測的準確度：≥0.017% 速度范圍：0.1-30mm/sec 速度準
織構壓電陶瓷研究成果在《科學》期刊發表
4月7日，《科學》期刊在線發表了西安交通大學在高性能織構壓電陶瓷方面的最新研究成果—《晶粒定向排列的鋯鈦酸鉛陶瓷》（Lead zirconate titanate ceramics with aligned crystallite grains）。 壓電材料是一種能夠實現機械能與電能相互轉換的
X射線衍射分析對單晶取向和多晶織構測定
單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外坐標系的位向關系。雖然可以用光學方法等物理方法確定 單晶取向，但X 衍射法不僅可以精確地單晶定向，同時還能得到晶體內部微觀結構的信息。一般用勞埃法 單晶定向，其根據是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關系。透射
XRD與EDS有什么區別
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區分析成分的配件——能譜儀，是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測設備。SEM用于觀察標本的表面結構，其工作原理是用一束極細的電子束
XRD與EDS有什么區別
SEM，EDS，XRD的區別，SEM是掃描電鏡，EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區分析成分的配件——能譜儀，是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀，是用于物相分析的檢測設備。SEM用于觀察標本的表面結構，其工作原理是用一束極細的電子束
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