PNAS:利用X射線顯微鏡觀察瘧疾病原體
目前大約40％的人類生活地區受到瘧疾的影響，以及每年約有2億人感染瘧疾，60萬人因此喪生。由于氣候變化，瘧疾的傳播正在逐漸加劇。瘧疾是由蚊子攜帶的瘧原蟲感染引發的，這些病原體是單細胞生物，它們沉積在其宿主的紅細胞內，并通過“攝入”血紅蛋白生長和繁殖。 應對這種疾病的主要方法是利用喹啉類藥物，以及最近被廣泛使用的青蒿素藥物治療。然而，迄今為止，通過化合物控制病原性瘧原蟲感染的手段一直飽受爭議。 最近一項研究探究了瘧原蟲的代謝活動。研究表明，瘧原蟲在他們的消化液泡（一種類似于袋子的細胞器）中儲存了大量的血紅蛋白。這會釋放出瘧原蟲無法耐受的含鐵血紅蛋白分子。瘧原蟲設法使這些對其“有毒”的分子結晶，以降低毒性。因此，作者猜測活性化合物的作用可能是通過阻止血紅蛋白晶體的形成，從而抑制瘧原蟲的生存與繁殖。（圖片來源：Www.pixabay.com） 在這項研究中，由哥本哈根大學的Sergey Kapishnikov及其同事首次對感......閱讀全文
X射線顯微鏡原理
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出
X射線顯微鏡的簡介
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出
X射線顯微鏡的定義
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出
X－射線顯微鏡的概念
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出發的
X－射線顯微鏡的成像原理
X 射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件，在光學顯微鏡中為透鏡。由于X 射線的波長很短，在玻璃和一般物質界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡，一般用波帶片。此外，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像，同樣要求有強光源及
X－射線顯微鏡的成像原理
X 射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件，在光學顯微鏡中為透鏡。由于X 射線的波長很短，在玻璃和一般物質界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡，一般用波帶片。此外，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像，同樣要求有強光源及
X－射線顯微鏡的技術特點
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出發的
X－射線顯微鏡的功能特點
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出發的
X－射線顯微鏡的基本構造
聚焦放大元件常用的聚焦鏡是多層膜反射聚焦鏡和波帶片，成像放大元件是波帶片。1 多層膜反射聚焦鏡多層膜是在基板上重復涂上兩種不同的材料制成的人造一維晶體。通常，一種材料是高原子序數的重金屬（H），另一種是低原子序數的非金屬（L）。這兩個層的厚度之和dH + dL構成這多層膜的重復周期d。dH 和dL
X射線熒光分析顯微鏡的用途
可以快速、無損地對樣品（固體、粉末、液體、多層鍍膜等）的元素組成進行定性、定量分析，還可以通過面掃描功能獲得樣品的元素面分布圖（掃描區域最大可達10 cm×10 cm）。儀器配備的雙真空式設計可以在高靈敏度模式或大氣氛圍模式分析從Na到U的所有元素。可應用于地質礦物、電子電器、生物醫藥、環境、考
磁X射線顯微鏡的相關介紹
同步輻射中所含的輻射均是偏振光，可以是線偏振光，也可以是橢圓或圓偏振光，X 射線也不例外。如果待測物質具有磁性，則具有不成對電子，具有電子自旋磁矩和軌道磁矩。磁矩與不同方向的偏振光的作用是不同的，如用不同方向的圓( 線) 偏振光照射磁性材料，可以得到不同的吸收譜，該性質稱圓( 線) 二色性。
X射線顯微鏡的光源的介紹
三類X 射線光源：實驗室X 射線光源(X 射線管)、直線加速器和同步輻射裝置。同步輻射是既近平行又高強度，且波長可調而成為最理想的光源。未見有將直線加速器用于X 射線顯微鏡，實驗室光源有使用的，但不能用焦點在10 mm×1 mm 左右的封閉X 射線管，可以用高功率的旋轉陽極X 射線管。另外，可用
X射線顯微鏡的成像與構造
X 射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件，在光學顯微鏡中為透鏡。由于X 射線的波長很短，在玻璃和一般物質界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡，一般用波帶片。 此外，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像，同樣要求有
X射線顯微鏡的全息顯微術
已經知道，像是依靠吸收襯度( 光的振幅)或位相襯度一種信息來顯現的。而所謂全息，是指同時含有振幅與位相兩種信息。這是Gabor在1948 年提出的。由于記錄介質實際可記錄的信息只能是光強，也即振幅，故需將位相信息轉換成強度來記錄。把光照射到試樣上，試樣以球面波形式將其散射，如有另一束已知振幅與位
X－射線顯微鏡成像與構造介紹
X 射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件，在光學顯微鏡中為透鏡。由于X 射線的波長很短，在玻璃和一般物質界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡，一般用波帶片。此外，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像，同樣要求有強光源及
X射線顯微鏡的透射式X相關內容
用波帶片作為聚光鏡、顯微波帶片作為成像放大物鏡、CCD 為探測器, 分辨力可達10 nm。將樣品連上了制冷裝置( 氦氣)、轉動機構，并使CCD 與計算機連接，則可做斷層掃描(CT)，并從屏幕上直接觀察CT 圖。 水窗： 水窗是指從波長2.3 nm 至4.4 nm的一個波段范圍。用此范圍的X 射
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
X－射線顯微鏡的功能結構特點
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出發的
為什么X射線不能制出顯微鏡
有X射線顯微鏡的，X射線顯微鏡在生物樣品的研究中，應用X射線進行樣品觀察的有三類：（1）用軟X射線的接觸式顯微射線攝影（contact micro－radiography），（2）用兩個磁透鏡系統的投影式顯微射線攝影（projection mic-ro－radiography），（3）用細的X射線流
概述X射線顯微鏡的成像與構造
X 射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件，在光學顯微鏡中為透鏡。由于X 射線的波長很短，在玻璃和一般物質界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡，一般用波帶片。 此外，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像，同樣要求有
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
X射線管中X射線的產生原理
實驗室中X射線由X射線管產生,X射線管是具有陰極和陽極的真空管,陰極用鎢絲制成,通電后可發射熱電子,陽極（就稱靶極）用高熔點金屬制成（一般用鎢,用于晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料）.用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子,電子束轟擊靶極,X射線從靶極發出.
X－射線激光
X 射線激光指的是 XFEL （x-ray free-electron laser），X 射線自由電子激光。而這種激光，是將自由電子激光技術（FEL）產生的激光，拓展到 X 射線范圍內而產生的一種 X 射線激光。這種激光的強度可達傳統方法產生的激光亮度的十億倍，因此可讓較小晶體產生出足夠強的衍射圖樣
X射線光譜
1914年，英國物理學家莫塞萊（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射線光譜儀研究不同元素的X射線，取得了重大成果。莫塞萊發現，以不同元素作為產生X射線的靶時，所產生的特征X射線的波長不同。他把各種元素按所產生的特征X射線的波長排列后，發現其次序與元素周期表中的次序一致，他稱這
X射線原理
X射線定義X射線是由于原子中的電子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產生的粒子流，是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁波。其波長很短約介于0.01~100埃之間。X射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片
X射線治療
X射線應用于治療[7]，主要依據其生物效應，應用不同能量的X射線對人體病灶部分的細胞組織進行照射時，即可使被照射的細胞組織受到破壞或抑制，從而達到對某些疾病，特別是腫瘤的治療目的。
X射線診斷
X射線應用于醫學診斷[6]，主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由于X射線穿過人體時，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多，那么通過人體后的X射線量就不一樣，這樣便攜帶了人體各部密度分布的信息，在熒光屏上或攝影膠片上引起的熒光作用或感光作用的強弱就有較大
X射線散射
美國物理學家康普頓（Arthur Holy Compton，1892～1962）在大學生時期就跟隨其兄卡爾·康普頓開始X射線的研究。后來他到了卡文迪什實驗室，主要從事g射線的實驗研究。他用精湛的實驗技術精確測定了γ射線的波長，并確定γ射線在散射后波長會變得更長。但他沒能從理論上解釋這個實驗事實。他到
掃描式X射線顯微鏡的相關介紹
在上述透射X 射線顯微鏡中，整個被研究物需完全暴露在入射光束中，探測器顯示的是放大、完整的物像。在掃描式X 射線顯微鏡中入射光束一般被聚焦得很細小，如幾十個納米，故物體上只有一個很小的區域被光照射，探測器上只得到這一個點的放大圖像，相對移動物體與光的位置，可逐點得到物體上各點的像，這些點像被逐點
X射線熒光分析顯微鏡的技術參數
1.測量元素：Na—U； 2. X射線管：銠（Rh）靶/管電壓50 kV /管電流1 mA； 3. X射線熒光檢測器：SDD硅漂移檢測器； 4.透過X射線檢測器：NaI（Ti）晶體； 5. X射線導管：單毛細管10μm / 100μm無濾光片； 6.光學圖像：樣品整體光學像及共軸放大圖