能譜儀、波譜儀與質譜儀哪個精度更好
質譜儀的性能指標是它的分辨率，如果質譜儀恰能分辨質量m和m+Δm，分辨率定義為m/Δm。現代質譜儀的分辨率達105～106量級，可測量原子質量精確到小數點后7位數字。這里的“分辨率”即是相對于質量的精度。......閱讀全文
關于能譜儀的優點簡介
分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分鐘內分析和確定樣品中含有的所有元素，帶鈹窗口的探測器可探測的元素范圍為11Na~92U，20世紀80年代推向市場的新型窗口材料可使能譜儀能夠分析Be以上的輕元素,探測元素的范圍為4Be~92U。 靈敏度高 X射線收
波譜儀和能譜儀工作原理
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。
能譜儀的功能和應用
來自樣品的X光子通過鈹窗口進入鋰漂移硅固態檢測器。每個X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內產生電子空穴對。不同能量的X光子將產生不同的電子空穴對數。例如，Fe的Kα輻射可產生1685個電子空穴對，而Cu為2110。知道了電子空穴對數就可以求出相應的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高
俄歇電子能譜儀簡介
俄歇電子能譜儀（AugerElectronSpectroscopy，AES），作為一種最廣泛使用的分析方法而顯露頭角。這種方法的優點是：在靠近表面5-20埃范圍內化學分析的靈敏度高；數據分析速度快；能探測周期表上He以后的所有元素。雖然最初俄歇電子能譜單純作為一種研究手段，但現在它已成為常規分析
能譜儀結構及工作原理
能譜儀結構及工作原理能譜儀,結構,工作原理,特征X射線,X射線探測器X射線能量色散譜分析方法是電子顯微技術最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常稱為X射線能譜分析法,簡稱EDS或EDX方法.它是分析電子顯微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被廣泛使用.1.特征X射線的產生特征
掃描電鏡與能譜儀
掃描電鏡利用精細聚焦電子束照射在樣品表面,該電子束可以是靜止或在樣品表面作光柵掃描。在這個過程中,電子束與樣品相互作用產生各種信號,其中包括二次電子、背散射電子、俄歇電子、特征X射線和不同能量的光子等,這些信號來自樣品中的特定區域,分別利用探測器接收,可以提供樣品的各種信息,用于研究材料的微觀形貌、
電子能譜儀的構成介紹
一臺電子能譜儀的基本組成由所研究的試樣、一個初級激發源和電子能量分析器組成。它們安裝在超高真空(UHV)下工作。實際上，經常再備有一個UHV室安裝各種試樣制備裝置，和可能的輔助分析裝置。此外還有數據采集與處理系統。 (1)真空系統。電子能譜分析技術本身的表面靈敏度要求必須維持超高真空。現代電子
能譜儀性能指標
固體角：決定了信號量的大小，該角度越大越好檢出角：理論上該角度越大越好探頭：新型硅漂移探測器（SDD）逐步取代鋰硅Si(Li)探測器能量分辨力：目前最高級別的能譜儀分辨力可達121eV探測元素范圍：Be4～U92
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
X射線能譜儀應用范圍
1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析；3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測；4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域；5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析，
能譜儀的測試原理簡介
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電
波譜儀和能譜儀工作原理
波譜儀和能譜儀的范圍基本一樣，在于波譜儀的分析定量精度要高于能譜儀，可以對重疊的譜峰進行分峰處理和分析。而能譜儀以快速分析見長。但是現在波譜儀也有了進步，分析起來已經很快，對于定量要求不高的樣品，十幾秒就夠了。根據具體問題類型，進行步驟拆解／原因原理分析／內容拓展等。具體步驟如下：／導致這種情況的原
波譜儀和能譜儀的區別
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線
X射線能譜儀譜峰重疊問題的探討
針對X射線能譜儀在對樣品進行定性分析時經常出現的元素譜峰重疊問題,進行機理分析和歸納總結,提出在物證檢驗中如何避免譜峰重疊帶來定性分析偏差的方法.?
X光電子能譜儀
X光電子能譜儀是一種用于能源科學技術領域的分析儀器，于2010年10月1日啟用。 技術指標 最佳能量分辨率 < 30 μm，最佳能量分辨率 < 0.5 eV FWHM，C1s能量分辨率< 0.85 eV，離子源能量范圍：100 eV至3 keV，最大束流：4 μA，在烘烤完成24小
簡介能譜儀的使用范圍
使用范圍 1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析； 2、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定； 3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析，如：金屬化膜表面鍍層的檢測； 4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別，考古和文物鑒定，以及刑偵鑒定等領域； 5、進行材
俄歇電子能譜儀的簡介
歐杰電子能譜術也稱俄歇電子能譜儀（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要借由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生于受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使后者逃脫離開原子，這一連串事件稱為俄
俄歇電子能譜儀的應用
近年來,俄歇電子能譜儀( AES) 在材料表面化學成分分析、表面元素定性和半定量分析、元素深度分布分析及微區分析方面嶄露頭角。AES 的優點是,在距表面 0.5 ～ 2nm 范圍內, 靈敏度高、分析速度快,能探測周期表上 He 以后的所有元素。最初,俄歇電子能譜儀主要用于研究工作 ,現已成為一種常規
關于能譜儀的測試原理介紹
當X射線光子進入檢測器后，在Si（Li）晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的（在低溫下平均為3.8ev），而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε，因此，入射X射線光子的能量越高，N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對，經過前置放大器轉換成電
X射線能譜儀的原理介紹
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
XPS能譜儀荷電校正（Calibration）
對于絕緣體樣品或導電性能不好的樣品,光電離后將在表面積累正電荷,在表面區內形成附加勢壘,會使出射光電子的動能減小,亦即荷電效應的結果,使得測得光電子的結合能比正常的要高。樣品荷電問題非常復雜,一般難以用某一種方法徹底消除。在實際的XPS分析中,一般采用內標法進行校準。最常用的方法是用真空系統中最常見
能譜儀、波譜儀與質譜儀哪個精度更好
質譜儀的性能指標是它的分辨率，如果質譜儀恰能分辨質量m和m+Δm，分辨率定義為m/Δm。現代質譜儀的分辨率達105～106量級，可測量原子質量精確到小數點后7位數字。這里的“分辨率”即是相對于質量的精度。
能譜儀與波譜儀相比具有那些特點？
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
軟X射線能譜儀與透射光柵譜儀測量結果的對比
對軟 X射線譜儀和透射光柵譜儀的測量結果進行了對比。它們的回推譜形大致符合 ,只是透射光柵譜儀的復原譜的 N帶相對于 O帶太小。其原因可能是 X射線 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,對 N帶吸收較多。經過對透射光柵譜進行吸收補償后 ,兩種譜儀的復原譜基本一致。?
X－射線能譜
X 射線能譜（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微區成分分析最為常用的一種方法，其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時，會在內層電子處產生一個空缺，原子處于能量較高的激發狀態，此時外層電子將向內層躍遷以填補
能譜圖分析
多道γ能譜分析儀是核輻射的主要測量設備，也是環境γ射線能譜測量的主要設備。它用以確定樣品中的核素，以及單個核素的比活度。以NaI（Tl）閃爍體為探測器的多道γ能譜儀，探測效率高、易于維護、價格不高。目前它仍用于環境樣品γ能譜分析。因為它能量分辨不高，目前主要用于天然放射性核素（238U系，232Th
淺談Kevex－SIGMATMX射線能譜儀中的能譜分析技術
采用質子激發的X射線能譜分析 (PIXE)方法對磁過濾陰極真空弧沉積 (FVAPD)裝置在Al板上合成Ti膜相對厚度進行了測量 ,給出了沉積靶室中不同位置大面積合成薄膜的均勻性 .通過同背散射分析 (RBS)測量結果的比較表明 :利用在輕襯底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、無損和精確地測量F
應用X射線能譜儀檢驗原子印油
?原子印章是一種新型的印章。原子印章攜帶和使用極為方便,已被普遍使用。由于原子印章的特殊結構,其印油的成份不同于普通的印臺油及印泥。早期的原子印油多為國外進口,目前國內亦有一些廠家生產。我們應用掃描電子顯微鏡和 X 射線能譜儀對原子印油進行檢驗,獲得一些有用的信息。
軟X射線能譜儀數據采集系統
在 線 存 儲 軟X射線能譜儀的結構框圖見圖1。不同能量的軟X射線被Johann彎晶衍射分光,分光后的能量分布轉化成在探測器上對應的位置分布。位置靈敏、時間分辨好的MWPC和MCP都可做為這種探測器。軟X射線區適用的MWPC采用逐絲陽極讀出法以允許高計數率,同時也是為了滿足將可測能區延伸到更低能區