按照光譜干擾分類為譜線干擾和背景干擾,光譜干擾的消除和抑制也可以劃分為兩類。
首先,譜線干擾是由單色器光譜通帶內進入了發射線的臨近線或其他吸收線引起的,因此可通過提高儀器分辨度來減小誤差,具體做法是減小單色器的光譜通帶的寬度,從而使元素的共振吸收線與干擾曲線完全分開,只允許共振吸收線通過。此外,還可以通過降低燈電流或者選擇沒有干擾的其他吸收線的方法,從而將共存的干擾元素分離出來。
背景干擾是在原子化過程中,由于分子吸收和固體微粒產生的光散射而造成的干擾效應,是無法消除的,在具體實踐中,通常采用抑制或校正背景干擾的方法來減小誤差。火焰原子吸收是背景吸收的一個重要部分,因此,背景干擾的抑制一般可從改變火焰類型、燃助比和調節火焰觀測區高度來抑制分子吸收干擾。在石墨爐原子吸收光譜分析中,常添加基體改進劑,選擇性地抑制分子吸收的干擾。
此外,還可以采取光譜背景校正的方法降低測定誤差,即先對背景吸收進行測定,確定背景吸收的值,再在待測物測定后去掉這部分誤差值。
背景吸收校正( background absorption correction)主要有鄰近線法、連續光源(在紫外光區通常用氘燈)法 、塞曼(Zeeman) 效應法等。鄰近線背景校正法是用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度,再選一條與分析線相近的非吸收線,測得背景吸收。兩次測量的吸光度相減,即為扣除背景后原子吸收的吸光度值。連續光源法是用氘燈與銳線光源 ,采用雙光束外光路,使入射強度相等的兩燈發出的光輻射交替地通過原子化器 ,用銳線光源測定的吸光度值為原子吸收和背景吸收的總吸光度,而用氘燈測定的吸光度僅為背景吸收,兩者之差即是經過背景校正后的被測定元素的吸光度值。
塞曼效應校正背景是利用在磁場作用下簡并的譜線發生裂分的現象進行的。磁場將吸收線分裂為具有不同偏振方向的組分,利用這些分裂的偏振成分來區別被測元素和背景的吸收。寒曼效應校正背景法分為兩大類— 光源調制法與吸收線調制法。光源調制法是將強磁場加于光源,吸收線調制法是將磁場加于原子化器,后者應用較廣。