用SE掃描序列,層厚10mm（沒有10mm層厚的，選用最大層厚），按TR500ms，TE30ms， NEX2次，FOV250mm和256×256矩陣掃描條件（必要時可適當改變TR、TE時間，以獲得更好的影像），對模體不同測量層面進行單層掃描，必要時先進行均場。用以上掃描條件對充有均勻溶液的模體均勻性層進行掃描，如( 圖二)，對圖像均勻分布的點測量其信號強度值，測量區面積取100個象素點，測量點不少于9個。
空間分辨力檢測
用SE掃描序列,層厚10mm（沒有10mm層厚的，選用最大層厚），按TR500ms，TE30ms， NEX2次，FOV250mm和256×256矩陣掃描條件（必要時可適當改變TR、TE時間，以獲得更好的影像），對模體不同測量層面進行單層掃描，必要時先進行均場。用以上掃描條件對模體空間分辨力層進行掃描，如圖（三）圖像，將窗寬調至最小，調窗位使圖像清晰分辨開模體最小一組的線對數。
